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應(yīng)用案例
PL熒光光譜測量應(yīng)用案例
自動晶片激光打標(biāo)機(jī)應(yīng)用案例
晶片厚度及翹曲度測量設(shè)備應(yīng)用案例
晶片膜厚自動測量及分類機(jī)應(yīng)用案例
產(chǎn)品介紹
PL譜掃描成像儀
自動晶片激光打標(biāo)機(jī)
晶片厚度及翹曲度測量設(shè)備
晶片膜厚自動測量及分類機(jī)
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應(yīng)用案例
晶片膜厚自動測量及分類機(jī)
兼容多種材料,多層膜厚測量的解決方案; 同質(zhì)外延膜厚測量解決方案; 微區(qū)膜厚測量解決方案
聯(lián)系:
北京中拓光電科技有限公司
service@bjctoe.com
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應(yīng)用案例:
PL熒光光譜測量應(yīng)用案例
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晶片自動分類機(jī)
晶片方塊電阻自動測試機(jī)
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